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IST-6500IC测试仪,测试仪器网专业销售,提供IST-6500IC测试仪产品简介,技术参数.

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产地:北京 厂商:金三航 价格

本系统的主要特点

 

  存储器IC测试仪。对DRAM、SIMM、SRAM、VRAM、及PCMCIA卡提供即时的功能分析测试。提供多种测试模式。
  最高容量64MB,最宽144位,且成本低廉全可编程。

 

主要功能:

 

    IST6500型存储器功能参数测试仪
  在2NS基频下,提供四种方法自动测试存取时间 在2NS到160NS的各种器件(DRAM定时参数可编程提供1NS的基频)从而实现实时测试。
兼备有高速双通道阈值比较器的可编程动态加载,允许用户编程DUT输出口负载,以达到一个宽的工作范围。这一特性在SIMN器件测试钟尤其重要,因为后者须经常驱动,大容量小电阻的负载。

 

  6500通过RS-232与PC机接口,器机械手接口具有“料箱排序”功能,可将器件按照选定的工作参数进行排序,这在工程元件特性或GO/NO GO测试中很具有典型意义。 IST6500易于编程,且存储有100个不同的用户自定义测试路径,提供了器件的各种工作参数包括存取时间,工作电流,备用电流,数据保持电流,输出负载,DUT电流源,定时参数,测试模式及逻辑阈值的自动引导测试或GO/NO GO测试,同时引导GO/NO GO 测试的参数的预置极限也可存储在程序里。

 

  6500具备一系列完善的存储测试模式,并向用户提供短/长两种测试模式,它能在最短的时间内完成绝大多数RAM指标的检测。数据测试模式包括:
全1,全0,方格噪声模式,步1,步0,列干扰,滑动斜行,移动倒置,这些模式能检测存储器芯片上及其他地址上的短路,开路或单值错误,也能检测芯片干扰,信号转换放大器干扰及噪声灵敏度错误。

 

主要性能指标:

 

  *可测试DRAM,SRAM,SIMN,VRAM器件(容量可高达64MB)的同步电流,输出驱动,阈电压,电源边界参数。
  *DRAM定时参数测试可以编程到1NS或“自动定时寻找”。
  *提供刷新测试,基本,快速检测,密集或用户定义的测试模式。
  *错误停止/错误步进,显示错误地址及错误位。
  *测试回路内部自动转换不需要位每个测试器件装配分立模块。
  *通用主机及专用插入式家用模块设计,可根据内存器件的变化随时进行扩充。
  *支持DIP,ZIP,SOJ,SIP,PLCC,TSOP多种封装。
  *后备电池支持的RAM存储了100个用户程序,用以各器件的特性的特性测试,因而提供 了“一次性操作”。
  *配有232接口可独立操作或与PC联机操作,也可连接机械手对器件分类筛选。
  *自动参数的缺省值允许瞬时“单键”测试。
  *测速高达0.9SEC/MB/模式的DMA高速硬件测试电路.

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